Mastersizer 3000+, 最受歡迎的粒徑分析儀 粒徑範圍：0.01µm - 3500µm Mastersizer 系列的雷射繞射粒徑分析儀樹立了業界的標竿，其可快速準確地提供濕式及乾式分散系統的粒徑分佈。粒徑分析對於瞭解和調控不同特性而言相當關鍵，它可以幫助您從評估產品的均勻性和溶解度，到最佳化填充密度以提高最終產品性能，甚至是控制粉末流動性以提高生產效率等。Mastersizer 系列搭載人性化的軟體和業界領先的人體工程學設計，讓使用者能夠快速和輕鬆地進行粒徑測量。
Zetasizer Advance 系列, 面面俱到的光散射技術 粒徑範圍：0.3nm - 15µm Zetasizer Advance 系列承襲了極為成功且領先市場的 Zetasizer Nano。 Zetasizer Advance 系列中的三種機型皆提供顆粒大小、顆粒電荷 (Zeta 電位) 及分子量分析，同時，各項分析技術更搭載了更強大的功能，包括自動相關性演算系統、M3-PALS Zeta 電位分析，定電流模式的 Zeta 電位分析，還有我們以深度學習為基礎的數據品質建議系統。 這三種型號分別提供藍標或紅標款式： 藍標適合一般樣品分析，例如金屬膠體、金屬氧化物與顏料等 紅標適合較具挑戰性的樣本類型，例如蛋白質、界面活性劑溶液和低固體含量樣品 所有 Zetasizer Advance 系統都能在最短停機時間內提供現場升級服務，萬一您的需求有所改變，可升級您的 Zetasizer 來適應新的挑戰。 搭配 OmniTrust 使用：Malvern Panalytical 為受管制環境而生的合規性解決方案 量測技術 - 典型 90° DLS - 非侵入性背向散射 DLS 技術 (NIBS) - 多角度動態光散射 (MADLS) 量測類型 - Zeta 电位 - 分子量 - 顆粒濃度 / 滴定濃度 僅限紅標機型
NanoSight 系列 以視覺方式追蹤奈米顆粒的大小與計數 粒徑範圍：0.01µm - 1µm 高解析的奈米顆粒大小與濃度數據 Malvern Panalytical NanoSight Pro 為您提供一簡單易用且具再現性的奈米顆粒特性分析平台。 NS Pro 根據不同的儀器配置與樣品類型，可快速分析直徑範圍從 0.01 到 1 µm*奈米顆粒的大小分佈與濃度。 使用可更換雷射模組並搭配電動濾光輪，可分析不同的螢光標記樣品。可透過奈米顆粒追蹤分析 (NTA，Nanoparticle Tracking Analysis) 軟體，良好地控制樣品溫度。
Morphologi 系列 為精密顆粒特性分析而生的自動成像系統 粒徑範圍：0.5µm - 1300µm 快速、自動的顆粒特性分析系統，整合了單一式平台，能分析顆粒形貌及特定化學組成，且包含一年 Wiley 的 KnowItAll® Raman Identification Pro 套件訂閱服務 Morphologi 4-ID 透過形貌導向拉曼光譜技術 (MDRS)，提供混合顆粒樣品中特定組成的形貌分析，這套系統在單一整合式平台中結合了自動顆粒成像與拉曼光譜分析，為複雜顆粒系統的特性分析提供強而有力的解決方案，且 Morphologi 4-ID 的軟體可與 Wiley 的 KnowItAll® Raman Identification Pro 軟體平台完美搭配運作，迅速辨識您的拉曼光譜 。
精準的晶相分析結果 結合了高利用率和高性能，讓您在實驗室的工作進入全新境界 - 提供更好的數據結果和更深入的見解，讓您更有效率地得到答案、改善製程、增進知識，乃至推動科學領域的發展。 讓您有更多時間投入您更有興趣的科學研究 無論您研究的材料為何，快速獲取樣品的晶相成分資訊對您的研究至關重要。只要用 Aeris 研究專用機型進行 X 光繞射實驗量測，再搭配 HighScore 分析軟體就可以立即獲得大量的晶體資訊。支援多元化的量測配置，包括反射式、穿透式以及低掠角薄膜 X 光繞射 (GIXRD) 實驗，讓您即時掌握所有多晶體材料的最佳量測數據。
Empyrean, 智慧型 X 光繞射儀 隨著第三代 Empyrean的推出，Malvern Panalytical 現在已經重新定義 X 光多功能繞射儀的標準：我們新設計的 MultiCore Optics 不需手動介入，就可以在多種不同的測量模式中進行切換。Empyrean 具有獨特的能力，可以在一台儀器上測量所有類型的樣品 - 從粉末到薄膜，從奈米材料到塊材等。材料科學日新月異，高性能 X 光繞射儀的使用壽命要比大多數的研究專案來得更長。有了 Empyrean，您便無懼面對未來的任何挑戰。
快速準確的線下 (at-line) 元素分析 量測類型 - 元素分析 - 污染物檢測與分析 技術類型 - 能量色散式 X 射線螢光(EDXRF) - 元素範圍：F-Am - LLD: 1 ppm - 100% - 分辨率 (Mg-Ka): 135eV - 通量: 160per / 8hr day
元素分析 X 射線螢光光譜(XRF) 能够對多種材料進行元素分析，包括固体、液体和疏鬆粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發應用需求而設計，其高品質的設計和功能，可對從鈹到鋂等多種元素進行精度範圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。 Zetium 包含了 SumXcore 技術，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 這種功能組合使 Zetium 在多種環境下擁有高分析能力、速度和任務靈活性。 Zetium 配備了Malvern Panalytical 最新版本的 SuperQ 軟件（包括 Virtual Analyst），可幫助非專家用户輕鬆地設置應用程序。 針對特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊，例如無標分析、地質痕量元素、潤滑油中的基体校正以及薄膜分析。 針對特定行業提供了 Zetium XRF 光譜儀行業專用版：水泥、礦物、金屬、石化產品以及聚合物和塑料。另外提供可滿足各行業嚴苛要求的高配置版本：Zetium頂級版。 Zetium 平台的模塊化設計允許通過各種軟件包來實現以任務為導向的性能增强。 Malvern Panalytical 提供了一系列集成解决方案；從連接樣品製備裝置的簡單接口，到將多個分析儀器集成到單一容器實驗室中的全自動項目。 量測類型 - 薄膜測量 - 元素分析 - 污染物檢測與分析 - 元素量化 - 化學鑑定 技術類型 - X 射線螢光 (XRF) - 波長色散式 X 射線螢光(WDXRF) - 能量色散式 X 射線螢光(EDXRF) - 元素範圍: Be-Am - LLD: 0.1 ppm - 100% - 分辨率 (Mg-Ka): 35eV - 通量: 160per - 240per 8h day