Malvern Panalytical

Mastersizer 3000+, 最受歡迎的粒徑分析儀 粒徑範圍：0.01µm - 3500µm Mastersizer 系列的雷射繞射粒徑分析儀樹立了業界的標竿，其可快速準確地提供濕式及乾式分散系統的粒徑分佈。粒徑分析對於瞭解和調控不同特性而言相當關鍵，它可以幫助您從評估產品的均勻性和溶解度，到最佳化填充密度以提高最終產品性能，甚至是控制粉末流動性以提高生產效率等。Mastersizer 系列搭載人性化的軟體和業界領先的人體工程學設計，讓使用者能夠快速和輕鬆地進行粒徑測量。

Zetasizer Advance 系列, 面面俱到的光散射技術 粒徑範圍：0.3nm - 15µm Zetasizer Advance 系列承襲了極為成功且領先市場的 Zetasizer Nano。 Zetasizer Advance 系列中的三種機型皆提供顆粒大小、顆粒電荷 (Zeta 電位) 及分子量分析，同時，各項分析技術更搭載了更強大的功能，包括自動相關性演算系統、M3-PALS Zeta 電位分析，定電流模式的 Zeta 電位分析，還有我們以深度學習為基礎的數據品質建議系統。 這三種型號分別提供藍標或紅標款式： 藍標適合一般樣品分析，例如金屬膠體、金屬氧化物與顏料等 紅標適合較具挑戰性的樣本類型，例如蛋白質、界面活性劑溶液和低固體含量樣品 所有 Zetasizer Advance 系統都能在最短停機時間內提供現場升級服務，萬一您的需求有所改變，可升級您的 Zetasizer 來適應新的挑戰。 搭配 OmniTrust 使用：Malvern Panalytical 為受管制環境而生的合規性解決方案 量測技術 - 典型 90° DLS - 非侵入性背向散射 DLS 技術 (NIBS) - 多角度動態光散射 (MADLS) 量測類型 - Zeta 电位 - 分子量 - 顆粒濃度 / 滴定濃度 僅限紅標機型

NanoSight 系列 以視覺方式追蹤奈米顆粒的大小與計數 粒徑範圍：0.01µm - 1µm 高解析的奈米顆粒大小與濃度數據 Malvern Panalytical NanoSight Pro 為您提供一簡單易用且具再現性的奈米顆粒特性分析平台。 NS Pro 根據不同的儀器配置與樣品類型，可快速分析直徑範圍從 0.01 到 1 µm*奈米顆粒的大小分佈與濃度。 使用可更換雷射模組並搭配電動濾光輪，可分析不同的螢光標記樣品。可透過奈米顆粒追蹤分析 (NTA，Nanoparticle Tracking Analysis) 軟體，良好地控制樣品溫度。

Morphologi 系列 為精密顆粒特性分析而生的自動成像系統 粒徑範圍：0.5µm - 1300µm 快速、自動的顆粒特性分析系統，整合了單一式平台，能分析顆粒形貌及特定化學組成，且包含一年 Wiley 的 KnowItAll® Raman Identification Pro 套件訂閱服務 Morphologi 4-ID 透過形貌導向拉曼光譜技術 (MDRS)，提供混合顆粒樣品中特定組成的形貌分析，這套系統在單一整合式平台中結合了自動顆粒成像與拉曼光譜分析，為複雜顆粒系統的特性分析提供強而有力的解決方案，且 Morphologi 4-ID 的軟體可與 Wiley 的 KnowItAll® Raman Identification Pro 軟體平台完美搭配運作，迅速辨識您的拉曼光譜 。

精準的晶相分析結果 結合了高利用率和高性能，讓您在實驗室的工作進入全新境界 - 提供更好的數據結果和更深入的見解，讓您更有效率地得到答案、改善製程、增進知識，乃至推動科學領域的發展。 讓您有更多時間投入您更有興趣的科學研究 無論您研究的材料為何，快速獲取樣品的晶相成分資訊對您的研究至關重要。只要用 Aeris 研究專用機型進行 X 光繞射實驗量測，再搭配 HighScore 分析軟體就可以立即獲得大量的晶體資訊。支援多元化的量測配置，包括反射式、穿透式以及低掠角薄膜 X 光繞射 (GIXRD) 實驗，讓您即時掌握所有多晶體材料的最佳量測數據。

Empyrean, 智慧型 X 光繞射儀 隨著第三代 Empyrean的推出，Malvern Panalytical 現在已經重新定義 X 光多功能繞射儀的標準：我們新設計的 MultiCore Optics 不需手動介入，就可以在多種不同的測量模式中進行切換。Empyrean 具有獨特的能力，可以在一台儀器上測量所有類型的樣品 - 從粉末到薄膜，從奈米材料到塊材等。材料科學日新月異，高性能 X 光繞射儀的使用壽命要比大多數的研究專案來得更長。有了 Empyrean，您便無懼面對未來的任何挑戰。