iST宜特

(clipboard)詳細文章:https://pse.is/240416lineweb IC製造過程中,差排是個棘手又難以觀察到的問題,可能會引發元件漏電,進而影響可靠性😰 TEM是唯一能觀察到差排的分析工具,您會使用TEM分析差排軌跡嗎? 今天也讓我們一起解鎖更多TEM技巧吧!(wink)

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