(clipboard)詳細文章：https://pse.is/240416lineweb IC製造過程中，差排是個棘手又難以觀察到的問題，可能會引發元件漏電，進而影響可靠性😰 TEM是唯一能觀察到差排的分析工具，您會使用TEM分析差排軌跡嗎？ 今天也讓我們一起解鎖更多TEM技巧吧！(wink)