【技術｜掃描式電子顯微鏡分析技術的發展】 🔬 掃描式電子顯微鏡（SEM）的進化之旅 掃描式電子顯微鏡（SEM）自1960年代問世以來，迅速成為材料分析的重要工具，能提供材料表面形貌和成分分佈的資訊，並逐步拓展到材料結晶資訊的擷取。 🌐 探索寬能隙半導體 寬能隙半導體材料如氮化鎵 (GaN)、氮化鋁 (AlN)、氧化鋅 (ZnO) 和碳化矽 (SiC)，在高功率與高頻元件的應用領域展現出...