【MAFT 2024 精彩花絮 | 寬能隙半導體磊晶缺陷分析 🔬】 MAFT2024 閎康技術發表會已圓滿完成！感謝蒞臨現場及在線參與的所有貴賓，您們的大力支持是本次活動得以成功之關鍵！✨ 在本次發表會中，我們邀請到中山大學的張六文教授，詳細介紹了電子隧道對比影像（ECCI）和電子背向散射繞射（EBSD）技術在寬能隙半導體磊晶缺陷分析中的應用。寬能隙半導體製造過程中，磊晶缺陷可能嚴重影響...