BEX 技術：讓SEM成像再升級，不必再耗費大量勞力去找尋分析區域！ BEX 全新成像技術讓 SEM 成像大升級！可以輕鬆地針對特定感興趣的區域進行樣品形貌、晶體結構、化學成分分析，讓你擺脫繁瑣的灰階及傳統成像方式。 下方影片為 3D 列印的粉末樣本，相較於傳統的 SEM 成像（本次使用 SE，也適用於 BSE）， 全新的 BEX 成像技術，顯然可輕鬆鎖定出鈦（Ti）和矽（Si）污染物的位...