要如何得知晶片驗證已真正完成？ 隨著晶片設計越來越巨大，設計方法越來越複雜，要如何在加速覆蓋率收斂的同時實現驗證左移(shift left)，以加速晶片驗證時程？在這篇部落格文章中，我們將討論機器學習技術如何幫助您提早發現錯誤 (甚至是極端的情況下)，實現更快速的覆蓋率收斂，並縮短功能性驗證的周轉時間(turnaround time)。 中文全文▶️▶️ https://bit.l...