勀傑科技KCT

可量測磁場、震動和噪音問題，具備長期測量數據圖表紀錄系統。

可消除AC交流/DC直流磁場，依據客戶環境客製化解決方案。

可消除環境震動問題，多種規格依據客戶需求訂製。

解決SEM/TEM等大型儀器噪音，多層隔音材料，方便移動設計。

Phenom Pharos場發射電子顯微鏡、 Phenom XL G2大樣品艙電子顯微鏡、 Phenom ProX高效能電子顯微鏡、 Phenom Particle X粉末分析電子顯微鏡、 【電子顯微鏡擴充軟體】 元素分析、粒徑分析、孔徑統計、纖維分析、PPI自動化程序

SEM/TEM樣品製備、斜面切削、清潔拋光。