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『奈米影像、電鏡影像、環境改善』解決方案
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可量測磁場、震動和噪音問題,具備長期測量數據圖表紀錄系統。
可消除AC交流/DC直流磁場,依據客戶環境客製化解決方案。
可消除環境震動問題,多種規格依據客戶需求訂製。
解決SEM/TEM等大型儀器噪音,多層隔音材料,方便移動設計。
Phenom Pharos場發射電子顯微鏡、 Phenom XL G2大樣品艙電子顯微鏡、 Phenom ProX高效能電子顯微鏡、 Phenom Particle X粉末分析電子顯微鏡、 【電子顯微鏡擴充軟體】 元素分析、粒徑分析、孔徑統計、纖維分析、PPI自動化程序
SEM/TEM樣品製備、斜面切削、清潔拋光。