「第9回メタルジャパン　高機能金属展（幕張メッセ」にて、光学・電子・X線顕微鏡による先進の材料解析ソリューションをご提案します。   『出展社による製品・技術セミナー』 では、X線顕微鏡、FE-SEMやfs-Laserを搭載したFIB-SEMなど多くのイメージング装置を揃えるZEISS顕微鏡による、非破壊高分解能3D方位解析や自動in situ測定、fs-Laser断面のEBSD解析事例などを...